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    HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪

    核心参数

    • 产地类别 进口
    • 测量时间2min
    • 分辨率
    • 测量范围0.3nm ~ 10μm
    • 重现性+-2%
    • 分散方式 湿法分散
    • 仪器种类 动态光散射

    HORIBA 科学仪器事业部 查看联系方式

    • 营业执照已审核
    • 品牌性质生产商
    • 白金会员第19年
    • 信用积分4451
    • 反馈速度21-24小时
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    HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪 产品介绍 相关资料 相关新闻 用户评论

    产品介绍

    SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具,如颗粒粒径、zeta电位的检测,分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定;还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。


    SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型应用包括:纳米颗粒,胶体,乳液以及亚微米悬浮液。


    产品特点


    ·  同台仪器可测三种参数——粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数

    ·  宽检测范围,宽浓度范围——样品浓度可达40%

    ·  自动滴定仪——可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定

    ·  软件操作简单功能强大,一键测量

    ·  双光路双角度粒径测量(90° 和173°)

    ·  采用微量样品池


    技术参数


    粒径测量原理:动态光散射法(光子相关光谱法)

    粒径测定范围:0.3nm ~10μm

    粒径测量精度:±2%(NIST 可溯源标准粒子100nm)

    Zeta 电位测量原理:激光多普勒电泳法

    Zeta 电位测量范围:-500 mV ~ +500 mV

    分子量测量原理:Debye plot

    分子量测量范围:1000 ~ 2×107 Da

    测量角度:90° 和173°(可自动或手动选择)

    样品量:12μL ~ 1000μL

    HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪信息由HORIBA 科学仪器事业部为您提供,如您想了解更多关于HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

    注:对于医疗器械类产品,请先查证核实企业经营资质和医疗器械产品注册证情况。

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